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              0791-86560120
              86567790/86565913
              日立HD-2700帶有球差校正的場發射掃描透射電子顯微鏡

              產品介紹:


              HD-2700帶有球差校正的場發射掃描透射電子顯微鏡

              電鏡球差校正技術的實用化,使得同時進行高分辨率觀察和高靈敏度分析成為可能。日立高新技術公司與CEOS公司共同的努力,成功地開發出了新一代掃描透射電子顯微鏡(STEM)。

              HD-2700通過球差校正,用大會聚角獲得了亞納米級電子束,在分辨率和分析性能獲得重大的進步。

              HD-2700共有三種型號,分別是配有球差校正的高分辨型和標準型,以及無球差校正型,可根據應用需求選擇。

              特點:

              1.高分辨觀察

              *利用金顆粒保證0.144nm分辨率DFSTEM像(標準型)

              2.增加了探針電流(約為非校正的STEM探針電流的10倍),可以進行高速、高靈敏度能譜分析

              *可以在更短的時間內獲得元素的面分布圖

              *檢測微量元素成為可能

              3.簡化的操作

              *提供了專用的GUI自動調節球差校正器

              4.整體的解決方案

              *樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案:從制樣到數據獲得和分析

              5.多種評價/分析功能可選

              *同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像

              *可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得)

              *實時衍射(DF-STEM像和衍射像可以同時觀察)

              *低劑量功能可以減少由電子束造成的樣品破壞/污染

              *可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)

              *準確的放大倍率校準功能

              性能指標:

              分辨率:

              1、配有球差校正的標準型0.144nm,電子槍:冷場或熱場

              2、配有球差校正的高分辨型0.136nm,電子槍:冷場

              3、無球差校正型0.204nm,電子槍:熱場

              加速電壓:200KV

              放大倍率:100x-10,000,000

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